1. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
2. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
3. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
4. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Materials- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
5. #Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده : #Gareth Thomas, Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع : Electron microscopy ،Materials -- Testing
رده :
#
TA
،#.
T48
